Unabhängiger Test bestätigt PID-Resistenz der Photovoltaik-Module von Sharp
Die Module wurden bei 50 Grad Celsius und einer relativen Luftfeuchte von 50 Prozent getestet. Einige wiesen Leistungseinbrüche von bis zu 98 Prozent im Vergleich zur Ausgangsleistung auf. Nicht so die Module von Sharp, deren Leistung nicht abnahm.
PID kann bei negativen Spannungen gegenüber der Erde auftreten und wird durch hohe Systemspannungen, Temperaturen und Luftfeuchte beschleunigt.
Sharp prüft jedes neue Produkt selbst auf potenzialinduzierte Degradation
„Das ist ein sehr erfreuliches Ergebnis für uns und zeigt deutlich, dass es große Unterschiede zwischen den Modulherstellern gibt. Zudem bestätigt es die Zuverlässigkeit unserer eigenen PID-Qualitätsprüfungen, die nach den strengen NREL-Standards bei jedem neuen Produkt durchgeführt werden“, betont Peter Thiele, Vizepräsident für Energielösungen bei Sharp Europe.
05.08.2012 | Quelle: Sharp Electronics (Europe) GmbH | solarserver.de © EEM Energy & Environment Media GmbH
